I.C.T X-7900 |System kontroli rentgenowskiej półprzewodników off-line AXI
AXI X-7900
System kontroli rentgenowskiej Semicon
Sprzęt do testowania półprzewodników elektronicznych X-7900 może być używany do wykrywania półprzewodników z układami scalonymi, takich jak spawanie elementów BGA, IGBT, flip-chip i PCBA, precyzyjnych testów w diodach LED, fotowoltaice i innych gałęziach przemysłu;szeroko stosowane w dziedzinach produkcji przemysłowej, takich jak części samochodowe, testowanie odlewów, testowanie jakości spawania zbiorników ciśnieniowych i rur oraz analiza nowych materiałów;potrafi wykryć defekty w różnego rodzaju bateriach, takich jak baterie zasilające, cylindry, opakowania giętkie, obudowy kwadratowe i laminaty itp.
Cechy z System kontroli rentgenowskiej Semicon：
1. Scena może poruszać się w kierunkach X i Y, detektor i światłowód mogą poruszać się w kierunku Z, a prędkość można podzielić na wolną, średnią i dużą.
2. Efektywny zasięg wykrywania jest większy, a powiększenie i skuteczność wykrywania produktu są lepsze.
3. Łatwo jest zidentyfikować wady nachylenia boku produktu i wykryć je bez martwego kąta.
4. Zastosuj najlepsze na świecie japońskie źródło promieniowania rentgenowskiego Hamamatsu.
5. Łatwo jest zidentyfikować zginanie i łamanie złotych drutów w opakowaniach półprzewodników.
6. Edytowalny program wykrywania umożliwiający automatyczne wykrywanie CNC.
7. Nadaje się do wykrywania masy, poprawia skuteczność wykrywania i automatycznie ocenia produkty NG.
8. Bardzo duże okno automatycznej nawigacji, scena może zostać przesunięta do wskazanej pozycji poprzez kliknięcie myszką.
9. Operacja jest bardzo wygodna, a wadę przedmiotu można szybko znaleźć, co poprawia skuteczność wykrywania.
10. Wysokie bezpieczeństwo, potwierdzone certyfikatem CE UE, Międzynarodowym Systemem Zarządzania Jakością ISO i Certyfikatem AERB na promieniowanie rentgenowskie.
Sterowanie joystickiem
Sterowanie programowe
Opcjonalnie: Cyfrowy detektor płaski HD X-RAY
Probówka rentgenowska
Zasada działania
System kontroli rentgenowskiej Semicon
Komputer steruje natężeniem lampy rentgenowskiej emitowanej przez lampa rentgenowska, penetruje badany obiekt, dociera do detektora, a karta akwizycji obrazu przetwarza sygnał i odsyła go z powrotem do komputera.
Aplikacja systemu kontroli rentgenowskiej Semicon:
SMT, BGA, CSP, Flip Chip, pakiet MINI LED, montaż PCBA, opakowania półprzewodników, bateria litowa, komponenty elektroniczne, części samochodowe, fotowoltaika, odlewy ciśnieniowe aluminium, formowanie tworzyw sztucznych, ceramika, inne gałęzie przemysłu specjalnego.
Opakowania półprzewodników
PCBA
Uprząż elektroniczna
Pakiet MINI LED
Kabel
Czujnik samochodowy
Bateria litowa
Bateria zasilająca
Specyfikacja systemu kontroli rentgenowskiej Semicon:
| Przedmiot | Model | I.C.T X-7900 |
| Lampa rentgenowska | Typ | Zamknięte, odblaskowe źródło promieniowania rentgenowskiego z mikrofokusem |
| Napięcie | 130 kV |
| Prąd elektryczny | 300uA |
| Rozmiar plamki ogniskowej | 3μm |
| | Maksymalna moc wejściowa | 39 W |
| | Kąt wiązki promieni rentgenowskich (stożek) | 105 stopni |
| | Odległość od ostrości do obiektu | 10 mm |
| Płaski panel | Obszar obrazowania | 160mm*160mm |
| Rozmiar jednostki światłoczułej | 85μm |
| Rezolucja | 1644*1648 pikseli |
| Kąt pochylenia detektora | 0-60° |
| Liczba klatek obrazu (1×1) | 30 klatek na sekundę |
| Platforma | Maks.Rozmiar ładowania | 540 mm * 540 mm |
| Maks.Obszar inspekcji | 510 mm * 510 mm |
| Maks.Ładowanie ciężaru | 10 kg |
| Obrót platformy | Obrót platformy o 360° (opcjonalnie) |
| Maszyna | Wewnętrzna blacha ołowiana | Płyta ołowiana o grubości 5 mm (promieniowanie izolacyjne) |
| Wymiar | 1110 mm (dł.) * 1350 mm (szer.) * 2000 mm (wys.) |
| Waga | 1050 kg |
| Komputer | 24-calowy panoramiczny monitor LCD/procesor I5/4G pamięć/dysk twardy 250G |
| Moc | AC110/220V, 10A, 1300W |
* I.C.T stale pracuje nad jakością i wydajnością, dane techniczne i wygląd mogą zostać zaktualizowane bez specjalnego powiadomienia.
Polski 
